Аналитика #6/2024
А. Е. Каменщиков, В. В. Родченкова
Инструментальные решения для элементного анализа на основе плазменной спектрометрии 10.22184/2227-572X.2024.14.6.458.464 Элементный анализ востребован практически во всех отраслях: в металлургии, экологии, сельском хозяйстве, фармацевтике, криминалистике, химии, микроэлектронике, нефтяной и пищевой промышленности, в производстве авиационных материалов и т. д. Среди других аналитических методов значительное место занимает спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП). В статье рассмотрены особенности методов масс-спектрометрии (МС) и оптической эмиссионной спектрометрии (АЭС) с индуктивно связанной плазмой. Оба метода эффективно дополняют друг друга. Подробно описаны возможности, преимущества и технические характеристики передовых моделей спектрометров ИСП-МС (SUPEC 7000) и ИСП-АЭС (EXPEC 6500). Аналитика #2/2024
О. В. Шестак, М. А. Горбачев
Аналитика без компромиссов Компания «ИнПроТех» с 2015 года занимается комплексным оснащением лабораторий: аналитических, экологических, исследовательских, технологических и ОТК. С момента основания клиентами и партнерами компании стали представители горнодобывающей, нефтегазовой, фармацевтической, аграрной и пищевой отраслей промышленности. Поставляемое оборудование и комплексные решения успешно применяются ведущими в своих секторах предприятиями. Приоритетным направлением компании «ИнПроТех» является золотодобыча и пробирно-­аналитические лаборатории (ПАЛ), которые вносят неоспоримый вклад в обеспечение максимального извлечения благородного металла из руды. В статье основное внимание уделено подходу «ИнПроТех» к оснащению ПАЛ, что, однако, не исключает готовности расширять взаимодействие по другим направлениям. Аналитика #2/2021
Н. Н. Герасименко
Количественный фазовый анализ материалов цементного производства Представлен метод комбинированного фазового анализа с предварительным определением элементного состава поликристаллических материалов с помощью системы Smart X-Combo, состоящей из двух настольных приборов: волнодисперсионного рентгенофлуорес­центного спектрометра (XRF) и рентгеновского дифрактометра (XRD). Проведено сравнение с традиционным фазовым анализом, в котором применяются расчеты по методу Боге. На примере портландцемента показаны преимущества комплексного подхода к оценке фазового состава порошковых образцов. Аналитика #5/2019
А. Е. Каменщиков, И. В. Лавренов, В. Е. Фомин
Использование вторичных мишеней в энергодисперсионных рентгено-­флуоресцентных спектрометрах Genius IF Рентгенофлуоресцентный анализ (РФА) – один из лучших аналитических методов элементного анализа самых различных проб: твердых веществ, жидкостей и порошков. Описан принцип работы аппаратуры для энергодисперсионного (ЭД) РФА. Обсуждаются способы увеличения чувствительности путем улучшения эффективности регистрации сигнала рентгеновской люминесценции с помощью применения фильтров и вторичных мишеней. Проведены эксперименты при прямом возбуждении образца, а также с применением фильтров и вторичных мишеней. Продемонстрированы примеры практического применения, в которых наблюдается значительное увеличение соотношения сигнал / шум при использовании вторичных мишеней во всем спектральном диапазоне при соответствующем выборе материала мишени. Экспериментально показано влияние материала мишени на интенсивность линий аналитов. Аналитика #5/2019
Х. Ниими, Ю. Сакуда, Н. Асано, Ш. Асахина
Наблюдение и анализ образцов на полевом растровом электронном микроскопе сверхвысокого разрешения при низких ускоряющих напряжениях JEOL разрабатывает и выпускает растровые электронные микроскопы (РЭМ) более 50 лет: первый – JSM 1 – был представлен в 1966 году. РЭМ широко используется в науке, медицине, производстве, при проведении криминалистической и других экспертиз благодаря своей способности не только формировать изображение мелких структур, но и выдавать информацию об элементном составе образца и его кристаллических свой­ствах. В последнее время при проведении таких исследований предъявляются все более высокие требования к пространственному разрешению микроскопа, уменьшению эффекта зарядки поверхности и повреждений образца, а также локализации зоны анализа. В работе продемонстрированы решения с использованием низкого ускоряющего напряжения, реализованные в новом РЭМ FE-SEM JSM 7900F, а также примеры их применения. Аналитика #3/2017
Л.Деев, П.Лопашинов, Э.Нивеницын, Е.Соловьева, А.Доросевич, С.Моисеенкова, И.Новиков, Н.Пахомова
Элементный состав плаценты по данным энергодисперсионного рентгеновского микроанализа на базе СЭМ Исследовано процентное содержание некоторых элементов в биопробах плаценты родильниц при нормальном сроке гестации 39–40 недель. Определяли содержание C, N, O, Ca, Cl, K, Na ,P, S, Al, Fe, Mg, Si в 70 биоптатах с забором ткани в пяти точках плаценты. Выявлены достоверно значимое различие массовых долей некоторых химических элементов (p<0,05) в биоптате независимо от точки забора, а также последовательность представления элементов от бόльшего содержания к меньшему для элементов: С > О > N. УДК 618.231, 618.46 ВАК 02.00.02, 03.01.04 DOI: 10.22184/2227-572X.2017.34.3.74.80 Аналитика #2/2017
К.Гордеев, И.Шахнович, А.Шишкин
Oт контроля продукции до культивирования клеток. Передовые решения на выставке analytica 2016 В заключительной части репортажа с международной выставки аналитического и лабораторного оборудования analytica 2016 (Мюнхен) ведущие мировые компании-приборостроители рассказывают о наиболее интересных и перспективных инструментальных решениях в области элементного анализа, наук о жизни, нанотехнологий и пробоподготовки. DOI: 10.22184/2227-572X.2017.33.2.38.65 Аналитика #4/2016
С.Жохов, О.Шахнович
"Аналитика ЭКСПО 2016". Современное российское аналитическое приборостроение Часть 1. Портативные масс-спектрометры, конфокальные рамановские системы, ИК-фурье-спектрометрия, приборы и решения для элементного анализа В апреле 2016 года в Москве состоялась 14-я Международная выставка лабораторного оборудования и химических реактивов "Аналитика ЭКСПО" – самое масштабное в России событие в области технологий химического анализа, лабораторного оборудования, химических реактивов и материалов. Аналитика #3/2016
К.Гордеев, И.Шахнович
Элементный анализ: от калибровки до результата. Новые решения на выставке analytica 2016 В статье представлен обзор решений в области элементного анализа, продемонстрированных на выставке analytica 2016 некоторыми из ключевых партнеров компании "НКЦ "ЛАБТЕСТ". Обсуждается широкий спектр приборов и материалов – от калибровочных образцов, систем пробоподготовки и ввода до последних моделей спектрометров высокой чувствительности и разрешения. Аналитика #2/2016
Д.Коркина, Ю.Кларк-Карская, А.Иванова, А.Захарова, А.Кузин, И.Гринштейн
Чистое рабочее место – комплексное решение проблемы загрязнений проб при проведении следового элементного анализа Проблема загрязнения аналитической пробы из среды лаборатории – одна из основных при проведении следового элементного анализа на уровне десятков мкг/л и ниже. Для распространенных элементов этот фактор становится определяющим, так как их фоновые содержания могут быть очень велики, что в конечном счете, приводит к серьезным ошибкам определения концентрации. В статье описана разработка компании "Аналит Продактс" – "чистое рабочее место" для проведения элементного анализа. Приведена оценка его эффективности для снижения вероятности загрязнения анализируемых растворов из окружающей среды лаборатории. На примере широко распространенных элементов Al, Ca, Fe, Mg, Na, Si и Zn доказано уменьшение случайной и систематической ошибок анализа. Измерения проводили методами атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой и атомно-абсорбционной спектроскопии с электротермической атомизацией.