Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "редкоземельные элементы"

Аналитика #4/2025
А. А. Егорова, Г. Е. Марьина, В. Б. Барановская
Контроль качества фторидных стекол. Обзор возможностей и ограничений современных методов анализа твердофазных систем

10.22184/2227-572X.2025.15.4.282.291 Развитие технологий фотоники, инфракрасной оптики и лазерной спектроскопии стимулировало активные исследования фторидных стекол. Однако их сложный многокомпонентный состав и высокая чувствительность функциональных характеристик к содержанию примесей требуют контроля состава, структуры и свойств на всех этапах их изготовления. В обзоре обобщены возможности методов анализа твердофазных систем, таких как ИК- и КР-спектроскопия, ЯМР, РЭМ, РФлА, РФА, ДТА, применяемых для этих целей. Обозначены нерешенные задачи и намечены перспективные направления развития в области химической диагностики фторидных стекол.

Аналитика #4/2022
В. Б. Барановская, К. В. Петрова, М. С. Доронина, Е. С. Кошель, Н. А. Короткова, А. А. Архипенко
Комплекс методов оптико-спектрального анализа для установления целевой химической чистоты соединений редкоземельных металлов и материалов на их основе

https://doi.org/10.22184/2227-572X.2022.12.4.268.278 Исследование и разработка материалов на основе редкоземельных металлов востребованы и перспективны для микроэлектроники, оптической связи, лазерных технологий и др. Важным требованием для их эффективного применения являются химическая чистота и прогнозируемый состав исходных веществ. Установление чистоты исходных РЗМ и их соединений, контроль состава промежуточных и конечных продуктов представляют собой сложную аналитическую задачу. Cозданы комплексные методики анализа магнитных, люминофорных и оптических материалов и исходных веществ для их получения методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой, масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой и дугового атомно-эмиссионного анализа . Комплексное взаимодополняющее применение этих методов обеспечивает высокую точность и достоверность результатов, расширяет границы определяемых содержаний целевых примесей, перечень аналитов и номенклатуру анализируемых материалов.