10.22184/2227-572X.2025.15.4.282.291

Развитие технологий фотоники, инфракрасной оптики и лазерной спектроскопии стимулировало активные исследования фторидных стекол. Однако их сложный многокомпонентный состав и высокая чувствительность функциональных характеристик к содержанию примесей требуют контроля состава, структуры и свой­ств на всех этапах их изготовления. В обзоре обобщены возможности методов анализа твердофазных систем, таких как ИК- и КР-спектроскопия, ЯМР, РЭМ, РФлА, РФА, ДТА, применяемых для этих целей. Обозначены нерешенные задачи и намечены перспективные направления развития в области химической диагностики фторидных стекол.

sitemap

Разработка: студия Green Art