Тег "electron probe microanalysis"
Аналитика #6/2025
М. Н. Филиппов, М. А. Степович
Термическое воздействие электронного зонда на исследуемый объект в растровой электронной микроскопии и рентгеноспектральном микроанализе
10.22184/2227-572X.2025.15.6.432.441 Приведен критический обзор работ по оцениванию термического воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии и электронно-зондовом микроанализе. Основное внимание уделено теоретической оценке температуры перегрева анализируемого образца. Рассмотрены два основных направления исследований. Первое включает работы, в основе которых лежит строгое решение краевой задачи для дифференциального уравнения теплопроводности с правой частью, максимально точно описывающей процесс торможения электронов в веществе, а также с применением метода Монте-Карло. Другое направление связано с использованием упрощенных моделей генерации тепла, позволяющих получать аналитические выражения для температуры перегрева. Проведено сопоставление результатов, полученных различными способами.
Аналитика #2/2020
М. Н. Филиппов
«Безэталонный» рентгеноспектральный анализ: реальность или миф?
DOI: 10.22184/2227-572X.2020.10.2.124.130 Статья основана на материале пленарного доклада автора на III Всероссийской конференции по аналитической спектроскопии. Сегодня значительная часть электронных микроскопов оборудована энергодисперсионными рентгеновскими спектрометрами (ЭДС) с соответствующим математическим обеспечением. В результате этого возникает дополнительная возможность – проведение ЭЗМА исследуемого объекта. Руководства по использованию этих спектрометров предлагают достаточно простой и быстрый алгоритм проведения анализа обычно без использования каких-либо образцов сравнения (ОС). Такой подход получил название «безэталонный анализ» (БА). Обсуждается развитие БА и проблема правильности определений.