Термическое воздействие электронного зонда на исследуемый объект в растровой электронной микроскопии и рентгеноспектральном микроанализе
Приведен критический обзор работ по оцениванию термического воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии и электронно-зондовом микроанализе. Основное внимание уделено теоретической оценке температуры перегрева анализируемого образца. Рассмотрены два основных направления исследований. Первое включает работы, в основе которых лежит строгое решение краевой задачи для дифференциального уравнения теплопроводности с правой частью, максимально точно описывающей процесс торможения электронов в веществе, а также с применением метода Монте-Карло. Другое направление связано с использованием упрощенных моделей генерации тепла, позволяющих получать аналитические выражения для температуры перегрева. Проведено сопоставление результатов, полученных различными способами.
Теги: electron microscope electron probe microanalysis heat generation by an electron probe mathematical modeling of heat flow генерация тепла электронным зондом математическое моделирование переноса тепла электронно-зондовый микроанализ электронный микроскоп
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
eng


