sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)
Книги по аналитике
Статьи
Аналитика #2/2026
Микроволновая пробоподготовка – фундамент современных методов химического анализа
Аналитика #2/2026
«Пеликан» – первый российский роботизированный дифрактометр для анализа остаточных напряжений
Новости
//
все новости
28.04.2026
В «Тимирязев Центр» состоялось открытие выставки VacuumCryoTech
24.04.2026
Почти 600 участников из 19 стран зарегистрировались на Международный конгресс РЕДМЕТ-2026
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
до 29.04.2026
25-я юбилейная специализированная выставка приборов и оборудования для промышленного неразрушающего контроля Дефектоскопия / NDT Санкт-Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение
Основные рубрики журнала
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по аналитике
читать книгу
Лисичкин Г.В., Оленин А.Ю., Кулакова И.И.
Химия поверхности неорганических наночастиц
читать книгу
Кирсанов Е.А., Матвеенко В.Н.
Вязкоcть и упругость структурированных жидкостей
читать книгу
Под ред. В.Б. Барановской, И.В. Болдырева
Метрологическая прослеживаемость в химических измерениях
Другие серии книг:
Мир химии
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "simulation"
Аналитика #1/2018
Р.Рамлау, Ю.Грин, Х.Савада
Микроскопия интерметаллических клатратов с атомным разрешением
Описана установка электронного микроскопа Grand ARM с системой двойной коррекции аберраций в режимах STEM и TEM, которая открыла новые горизонты возможностей для изучения множества интерметаллических соединений с очень сложной, но красивой структурой. Интерметаллические клатраты являются ярким примером таких соединений и прекрасным объектом для исследований с максимальным разрешением. Первые результаты получены для боросилицида калия со структурой типа клатрат-I. УДК 620.187; ВАК 01.04.18 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.38.1.58.62
Электроника НТБ #3/2017
А.Сергеев
Программная платформа Mentor PADS – оптимальное соотношение возможностей и цены
Рассмотрены возможности и преимущества Mentor PADS – комплексной масштабируемой программной платформы для разработки печатных плат. Отмечено, что данная платформа обладает оптимальным соотношением цены, удобства и функциональности. DOI: 10.22184/1992-4178.2017.163.3.82.87 УДК 621.3.049 ВАК 05.27.00
Электроника НТБ #8/2015
К.Мещерякова
Тепловой режим работы мощных светодиодов – моделирование в ANSYS ICEPAK
При разработке светотехнических устройств на основе мощных светодиодов одна из важнейших задач – обеспечение допустимого теплового режима. О том, как решить эту задачу с помощью пакета ANSYS Icepak рассказывается в статье.
Печатный монтаж #6/2015
Л.Прудникова, В.Мейлицев
ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ: ОБЩИЕ ПРИНЦИПЫ И РАСПРОСТРАНЕННЫЕ ОШИБКИ
Компании, не имеющие большого опыта в разработке электронных устройств, допускают ошибки в проектах, которые на этапе производства приводят к значительным потерям – временным, финансовым, имиджевым. Каковы наиболее типичные из этих ошибок, в чем их причины и на что нужно обратить внимание, чтобы их избежать?
Электроника НТБ #6/2015
Д.Фролов, А.Круглов, К.Мещерякова
ANSYS: ПЯТЬ СОСТАВЛЯЮЩИХ КОМПЛЕКСНОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ ЭЛЕКТРОНИКИ
Рассматриваются возможности разработки электронных устройств с помощью программного комплекса ANSYS, позволяющего проводить расчет параметров электромеханических, радиоэлектронных, аналоговых и цифровых устройств как гражданского, так и военного назначения. Для удобства анализируются пять наиболее важных составляющих.
Электроника НТБ #9/2014
В.Ракитин
МОДЕЛИРОВАНИЕ НИЗКОВОЛЬТОВЫХ НАНОМЕТРОВЫХ СОВМЕЩЕННЫХ МОП-ПРИБОРОВ
Рассмотрен новый тип приборов с нанометровыми размерами – совмещенный МОП-транзистор (СМОП). Описана конструкция и принцип его работы. Проведено моделирование СМОП с минимальным топологическим размером 10 нм и показана его работоспособность при напряжении вплоть до 0,1 В.
Печатный монтаж #1/2015
А.Сергеев
OrCAD Capture/PSpice версии 16.67 – новые возможности для разработчика
Приведены нововведения, реализованные в последних версиях популярного редактора OrCAD Capture и программе моделирования схем OrCAD PSpice A/D компании Cadence Design Systems и позволяющие пользователям переходить на более совершенный релиз продукта несколько раз в год.
Фотоника #3/2013
И.Байнева, В.Байнев
Математические и программные средства моделирования источников света
Привычные всем вакуумные лампы проходят сложный путь от проектирования до производства. Строгое выполнение на этом пути всех непростых, часто противоречивых, технологических требований – от газовых добавок до отжига стеклозаготовок – основная движущая сила, развивающаяя современные светотехнологические технологии. В работе представлены модели и ПО для моделирования источников света, расчета их характеристик и технологических режимов производства.
Электроника НТБ #1/2013
МЭМС-форум 2012 "Моделирование. Производство. Тестирование"
В октябре 2012 года состоялся второй ежегодный международный МЭМС-форум, посвященный моделированию, производству и тестированию устройств на основе микроэлектромеханических систем. Хронология событий, обсуждаемые проблемы, мнения участников – обо всем этом в репортаже из мира высоких технологий.
Наноиндустрия #1/2011
В.Романько, С.Кравченко, С.Нестеров, В.Христич, П.Мальцев.
Применение вакуумной техники и технологии в космической отрасли
Традиционные направления исследований в космической отрасли – пилотируемая космонавтика, исследования Луны, Солнца, планет Солнечной системы и дальнего космоса с помощью космических аппаратов (КА) – составляют менее 15% от общего числа пусков КА, а расходы по ним не превышают 10% от бюджетов НАСА, Европейского космического агентства и Роскосмоса, причем доля указанных направлений в программах развития государственных космических ведомств неуклонно снижается. Либерализация мировой экономики обусловила пересмотр приоритетов в освоении космоса и программ развития соответствующих отраслей. Все большая роль в космической отрасли отводится коммерциализации – открытию космоса для частного бизнеса и получению доходов от освоения космического пространства.
←
1
2
Разработка: студия
Green Art