Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "наночастицы"

Наноиндустрия #1/2012
Е.Парфенюк, Н.Алешина, Ю.Анциферова, Н.Сотникова
Транспортная наносистема для иммунокоррекции функции макрофагов при эндометриозе

Работа представляет первый этап разработки транспортной наносистемы для глюкозаминилмурамилдипептида (ГМДП) – активного вещества ряда препаратов с иммуномодулирующим действием. Наиболее подходящим носителем для указанного препарата являются частицы SiO2 с аминопропильными функциональными группами на поверхности с радиусом 50 нм. В экспериментах in vitro установлено, что иммуномодулятор ГМДП в свободном виде и в составе транспортной наносистемы способен корректировать нарушенную функцию перитонеальных макрофагов женщин с эндометриозом. Эффект транспортной наносистемы с ГМДП превышает действие свободного препарата ГМДП, т.е. позволяет добиться максимального стимулирующего действия иммуномодулятора. Результат может служить основой для создания наносомальной лекарственной формы иммуномодулятора ГМДП для эффективного лечения эндометриоза.

Наноиндустрия #5/2011
Е.Евтушенко
Наблюдая за "жизнью" наночастиц

Броуновское движение – один из скрытых «двигателей» наносистем, предстает динамической красе в методе анализа траекторий движения наночастиц. Он – редкое сочетание наглядности и высокой значимости результатов. Измерение размера, концентрации и дзета-потенциала наночастиц в коллоидных растворах, изучение флуоресцирующих наночастиц – для серьезных исследователей. Увлекательная экскурсия в наномир – для молодых и любознательных.

Наноиндустрия #1/2011
Д.Багров, И.Яминский, О.Шабурова А.Феофанов, К.Шайтан.
Электросиловая микроскопия наноразмерных объектов

Электросиловая микроскопия (ЭСМ) – специальный режим атомно-силовой микроскопии (АСМ), позволяющий получать информацию о градиенте электрического поля над поверхностью образца, а также о величине и знаке локализованных на ней зарядов. ЭСМ может применяться для проверки качества контактов и поиска дефектов в электрических схемах, обнаружения связанных зарядов, чтения и записи информации посредством изменения расположения зарядов на поверхности. В данной работе режим ЭСМ использован для наблюдения особенностей отдельных наночастиц.

← 1 2 3

4