sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)
Книги по аналитике
Статьи
Аналитика #2/2026
Микроволновая пробоподготовка – фундамент современных методов химического анализа
Аналитика #2/2026
«Пеликан» – первый российский роботизированный дифрактометр для анализа остаточных напряжений
Новости
//
все новости
28.04.2026
В «Тимирязев Центр» состоялось открытие выставки VacuumCryoTech
24.04.2026
Почти 600 участников из 19 стран зарегистрировались на Международный конгресс РЕДМЕТ-2026
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
до 29.04.2026
25-я юбилейная специализированная выставка приборов и оборудования для промышленного неразрушающего контроля Дефектоскопия / NDT Санкт-Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение
Основные рубрики журнала
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по аналитике
читать книгу
Под ред. Е.К. Белоглазкиной, В.Г. Ненайденко, И.П. Белецкой
История органической химии в университетах России. От истоков до наших дней
читать книгу
под ред. Ю. А. Карпова, В. Б. Барановской, Л. П. Житенко
Аналитический контроль благородных металлов. Коллективная монография
читать книгу
Жуховицкий А.А. и др.
Хромадистилляция и хроматография
Другие серии книг:
Мир химии
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "spectrophotometer"
Фотоника #3/2018
Т. С. Лисовский
Современные методы измерения оптических характеристик тонкопленочных покрытий
Представлены результаты новейших разработок в области метрологического обеспечения измерений оптических характеристик тонкопленочных покрытий в широком диапазоне электромагнитного спектра от 185 нм до 5200 нм. Показаны технические решения для проведения автоматических измерений коэффициентов пропускания и абсолютного зеркального отражения плоскопараллельных деталей и призм. Представлены результаты реальных измерений покрытий с предельными характеристиками. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.71.3.346.351
Аналитика #2/2014
В.Копачевский, А.Шабусов, С.Бриль
ОЕМ-спектрофотометр ESCORT SM: высокоточный контроль и оптимизация нанесения тонкопленочных оптических покрытий
При нанесении современных тонкопленочных оптических покрытий с числом слоев до нескольких сотен необходим высокоточный контроль оптической толщины каждого из слоев. Важно также иметь инструмент управления процессом нанесения, чтобы получить соответствующую расчетным значениям толщину слоев. Авторы предлагают решить задачу контроля и управления процессом нанесения тонкопленочных оптических покрытий с помощью прецизионного ОЕМ-спектрофотометра ESCORT SM. ESCORT SM производит быстрые и прецизионные измерения спектров пропускания или спектров отражения наносимого покрытия, необходимые для контроля и оптимизации технологического процесса.
Аналитика #6/2013
Е.Заблоцкая
Полвека фотометрам из Йены: SPECORD отмечает юбилей
Открытие оптического цеха Карлом Цейссом в 1846 году положило начало мировому промышленному производству аналитических приборов. В 1995 году Analytik Jena AG приобретает аналитический отдел знаменитой компании Carl Zeiss Jena и становится продолжателем заложенных великим оптиком традиций, совершенствуя оборудование и привнося собственные инновационные разработки. Компания переняла 150-летний опыт и сохраняет приверженность историческим научным достижениям Эрнста Аббе и Карла Цейсса. Первоклассные продукты с надписью made in Germany соответствуют высочайшим стандартам качества.
Разработка: студия
Green Art