Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "spectrophotometer"

Аналитика #4/2026
Н. В. Игнатьева
Российские спектрофотометры ECOVIEW (Эковью). Решения для цифровизации лабораторий

10.22184/2227-572X.2026.16.4.264.267 Российские лаборатории развиваются и меняются в соответствии с запросами времени. Сегодня от аналитического оборудования требуется уже не только точность измерений. Все большее значение приобретают прослеживаемость результатов, контроль действий пользователей, сохранность данных, интеграция с информационными системами, и в целом, лаборатории должны соответствовать отраслевым стандартам, ГОСТ 17025-2019, стандарту GMP. Именно в этом направлении развивается серия спектрофотометров ECOVIEW, которые выпускают в России на производственной площадке ООО «ПО Псков Экология» в Пскове. Сегодня ECOVIEW – это широкая линейка фотометрического оборудования: от доступных приборов для рутинных измерений до профессиональных сканирующих систем со встроенным компьютером, журналом событий и возможностью интеграции в цифровую инфраструктуру лаборатории. В статье обсуждаются возможности и преимущества новых моделей спектрофотометров российского производства.

Фотоника #3/2018
Т. С. Лисовский
Современные методы измерения оптических характеристик тонкопленочных покрытий

Представлены результаты новейших разработок в области метрологического обеспечения измерений оптических характеристик тонкопленочных покрытий в широком диапазоне электромагнитного спектра от 185 нм до 5200 нм. Показаны технические решения для проведения автоматических измерений коэффициентов пропускания и абсолютного зеркального отражения плоскопараллельных деталей и призм. Представлены результаты реальных измерений покрытий с предельными характеристиками. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.71.3.346.351

Аналитика #2/2014
В.Копачевский, А.Шабусов, С.Бриль
ОЕМ-спектрофотометр ESCORT SM: высокоточный контроль и оптимизация нанесения тонкопленочных оптических покрытий

При нанесении современных тонкопленочных оптических покрытий с числом слоев до нескольких сотен необходим высокоточный контроль оптической толщины каждого из слоев. Важно также иметь инструмент управления процессом нанесения, чтобы получить соответствующую расчетным значениям толщину слоев. Авторы предлагают решить задачу контроля и управления процессом нанесения тонкопленочных оптических покрытий с помощью прецизионного ОЕМ-спектрофотометра ESCORT SM. ESCORT SM производит быстрые и прецизионные измерения спектров пропускания или спектров отражения наносимого покрытия, необходимые для контроля и оптимизации технологического процесса.

Аналитика #6/2013
Е.Заблоцкая
Полвека фотометрам из Йены: SPECORD отмечает юбилей

Открытие оптического цеха Карлом Цейссом в 1846 году положило начало мировому промышленному производству аналитических приборов. В 1995 году Analytik Jena AG приобретает аналитический отдел знаменитой компании Carl Zeiss Jena и становится продолжателем заложенных великим оптиком традиций, совершенствуя оборудование и привнося собственные инновационные разработки. Компания переняла 150-летний опыт и сохраняет приверженность историческим научным достижениям Эрнста Аббе и Карла Цейсса. Первоклассные продукты с надписью made in Germany соответствуют высочайшим стандартам качества.