Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "verification"

Электроника НТБ #6/2019
А. Глинкин, К. Никеев, Б. Филипов
Решения Mentor, a Siemens Business. Часть 2

DOI: 10.22184/1992-4178.2019.187.6.140.148 В статье приводятся краткие сведения обо всех инструментах, выпускаемых компанией Mentor Graphics. Во второй части материала представлены средства проектирования и анализа печатных плат. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.187.6.140.148

Электроника НТБ #5/2019
Д. Лобзов, А. Лохов
Решения Mentor, a Siemens Business для проектирования ИС и печатных плат

Часть 1 В статье приведены краткие сведения обо всех средствах проектирования ИС и печатных плат, выпускаемых компанией Mentor Graphics. В первой части представлены инструменты проектирования, моделирования и верификации цифровых, аналоговых и аналого-цифровых ИС.

Электроника НТБ #2/2019
А. Кривов, Е. Смирнова, К. Бондин, П. Николаев
Необходимость межлабораторных сличений в современной метрологии

В практике метрологического обеспечения электронных производств все большее значение приобретает такая технология достижения и поддержания требуемой точности промышленных измерений, как межлабораторные сравнительные испытания (МСИ). В статье рассмотрены вопросы реализации требований действующих стандартов в части, относящейся к МСИ, и приведены краткие сведения о пилотном проекте по МСИ результатов калибровки и поверки электроизмерительных приборов, выполненном компанией «Диполь». УДК 006.91:621.317.089.6 | ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.183.2.58.63

Аналитика #3/2018
Концепция новой версии стандарта ISO/IEC 17025:2017

30 ноября 2017 года вышел стандарт ISO/IEC17025:2017 General requirements for the competence of testing and calibration laboratories (Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий). "Стандарт ISO/IEC17025 <…> стал международным эталоном для проведения испытаний, а также для калибровочных лабораторий, которые предоставляют более достоверные и надежные результаты". В статье представлен обзор основных изменений новой редакции стандарта. УДК 006.1; ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.40.3.290.294

Электроника НТБ #9/2017
Ключевые аспекты проектирования печатных плат для устройств интернета вещей

Создание высококачественных печатных плат для изделий Интернета вещей требует применения интегрированной среды проектирования с расширенным функционалом. В статье рассмотрены ключевые аспекты, которые следует учитывать при разработке печатных плат для устройств Интернета вещей. УДК 621.3.049 ВАК 05.13.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.170.9.138.144

Электроника НТБ #3/2016
И.Попов
Специализированный процессор – своими руками Проектирование проблемно-ориентированных процессоров в многоядерных системах с помощью ASIP Designer

Компания Synopsys предлагает эффективный набор инструментов – ASIP Designer, ориентированный на быстрый поиск архитектурного решения, синтез аппаратного и программного обеспечения, компилирование и верификацию проекта на базе проблемно-ориентированного процессора (ASIP).

Электроника НТБ #4/2015
Д.Радченко
Современные САПР Synopsys – новые возможности для традиционных технологий

О новых методологиях и инструментах проектирования компании Synopsys, которые позволяют достичь высокого качества разработки при создании современных систем-на-кристалле на базе традиционных технологических процессов.

Наноиндустрия #5/2013
П.Тодуа, В.Гавриленко
Нанометрология – основа устойчивого развития нанотехнологий

Одна из ключевых задач нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано - и субнанометровом диапазонах. Важнейшими параметрами, характеризующими наночастицы, наноструктуры, нанопокрытия являются размерные. В статье представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии размерных измерений к единице длины в системе СИ.

← 1

2