sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)
Книги по аналитике
Статьи
Аналитика #6/2025
Годовое содержание 2025
Аналитика #6/2025
Всероссийская конференция «Российское научное приборостроение: состояние и проблемы»
Новости
//
все новости
24.11.2025
Вышел из печати Выпуск №6/2025 журнала «Аналитика»
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
Санкт-Петербургский международный экологический форум «Экология большого города»
c 07.04.2026 до 09.04.2026
IPhEB 2026. г. Санкт- Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение
Основные рубрики журнала
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по аналитике
читать книгу
Экман Р., Зильберинг Е., Вестман-Бринкмальм Э., Край А.
Масс-спектрометрия: аппаратура, толкование и приложения / При поддержке ООО «Брукер»,
читать книгу
Под ред. А.M. Магеррамова, К.T. Махмудова, М.Н. Копыловича, Армандо Дж.Л. Помбейро
Нековалентные взаимодействия в дизайне и синтезе новых соединений
читать книгу
Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И., Филатов А. М., Ульяненков А. Г.
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Другие серии книг:
Мир химии
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "поверка"
Электроника НТБ #2/2025
К. Епифанцев
ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ НОРМАТИВНОЙ БАЗЫ И ЭТАЛОНОВ ДЛЯ ПОВЕРКИ МУЛЬТИСЕНСОРНЫХ СИСТЕМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.243.2.138.140 Проанализировано состояние эталонной базы для поверки мультисенсорных систем и определены направления ее развития. Показана эффективность применения таких систем в технике и промышленности для одновременного измерения нескольких параметров.
Аналитика #6/2023
А. И. Крылов, Е. Р. Лазаренко
О поверке, калибровке приборов, аттестации методик и достоверности результатов химико-аналитических измерений
doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.6.428.434 Основные пути достижения достоверности (единства) результатов измерений, согласно существующим регламентам, связаны, в основном, с поверкой приборов, их калибровкой или воспроизведением метрологически аттестованных методик измерений. В части, касающейся измерений количества вещества, не всегда традиционные подходы являются оптимальными. Так, для специфических анализаторов, ряда электрохимических приборов и т. п. выполнение поверки является вполне оправданным и необходимым элементом получения достоверных результатов измерений. При воспроизведении (или разработке) методик, реализуемых на «универсальных» приборах, в первую очередь, речь должна идти о построении градуировочных характеристик (специфичных для каждого конкретного вещества), соблюдении режимов пробоподготовки и т. п. В этом случае целесообразность выполнения поверки прибора становится по крайней мере сомнительной. На получение адекватных результатов в большей мере влияют наличие и применение соответствующих средств градуировки: стандартных образцов – СО (чистые вещества или их растворы), средств контроля полученных данных – СО «матричного» типа, а также аттестованных методик измерений. Таким образом, в области химико-аналитических измерений возникает необходимость пересмотра перечня приборов, подлежащих обязательной поверке, и одновременно целесообразность более активного развития направления работ по существенному расширению списка СО, включая СО матричного типа.
Аналитика #1/2021
С. Н. Степанов, А. В. Петров, С. С. Степанов
Разработка компаратора ПКМ 100
DOI: 10.22184/2227-572X.2021.11.1.50.53 Описана конструкция и особенности работы компаратора ПКМ 100, предназначенного для измерения срединной длины и определения отклонения от плоскопараллельности концевых эталонных плоскопараллельных мер длины второго, третьего и четвертого разрядов и рабочих классов точности 1–5 длиной от 0,1 до 100 мм. Подробно описана конструкция кассеты для базирования КМД от 0,5 до 100 мм и схема измерения на компараторе ПКМ 100. Разработана специальная кассета на основе плоской стеклянной пластины ПИ 60 для базирования тонких мер номинальной длиной от 0,1 до 0,5 мм, в которой выполнены каналы для подвода вакуума и надежной фиксации концевых мер с размерами поперечного сечения 20 × 9 и 15 × 5 мм. Приведена методика и результаты поверки компаратора, подтверждающие его технические характеристики, которые позволяют использовать компаратор для поверки концевых мер второго разряда.
Электроника НТБ #2/2019
А. Кривов, Е. Смирнова, К. Бондин, П. Николаев
Необходимость межлабораторных сличений в современной метрологии
В практике метрологического обеспечения электронных производств все большее значение приобретает такая технология достижения и поддержания требуемой точности промышленных измерений, как межлабораторные сравнительные испытания (МСИ). В статье рассмотрены вопросы реализации требований действующих стандартов в части, относящейся к МСИ, и приведены краткие сведения о пилотном проекте по МСИ результатов калибровки и поверки электроизмерительных приборов, выполненном компанией «Диполь». УДК 006.91:621.317.089.6 | ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.183.2.58.63
Электроника НТБ #8/2015
А.Зуйков
АВТОМАТИЗАЦИЯ РАБОТЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ СЛУЖБЫ – ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ FLUKE MET/CAL
В эффективной организации работы метрологической лаборатории большую роль играет программное обеспечение (ПО) для автоматизации поверки и систематизации ее результатов. Такое ПО позволяет значительно упростить и ускорить процесс поверки. Пример универсального и эффективного ПО для решения метрологических задач – Fluke MET/CAL. О возможностях этого программного обеспечения рассказывается в этой статье.
Наноиндустрия #5/2013
П.Тодуа, В.Гавриленко
Нанометрология – основа устойчивого развития нанотехнологий
Одна из ключевых задач нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано - и субнанометровом диапазонах. Важнейшими параметрами, характеризующими наночастицы, наноструктуры, нанопокрытия являются размерные. В статье представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии размерных измерений к единице длины в системе СИ.
Разработка: студия
Green Art