sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)
Книги по аналитике
Статьи
Аналитика #3/2026
К юбилею журнала
Аналитика #3/2026
Новости
Новости
//
все новости
04.06.2026
Выставки Rosmould | Rosplast | 3Д-ТЕХ 2026 откроются для посетителей 16 июня
02.06.2026
Открыта регистрация на Pharmtech & Ingredients - ключевую выставку фармацевтического производства!
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 16.06.2026 до 19.06.2026
Rosmould | Rosplast | 3D-TECH — комплексные инженерные решения для современного производства. г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение
Основные рубрики журнала
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по аналитике
читать книгу
Редактор оригинального издания С. Шлюкер
Поверхностно-усиленная рамановская спектроскопия (SERS): аналитические, биофизические и биомедицинские приложения
читать книгу
Барановская В.Б., Кошель Е.С.
Дуговой атомно-эмиссионный анализ редкоземельных металлов и их оксидов
читать книгу
Под редакцией проф. Хеннера Шмидта-Трауба, д-ра Михаэля Шульте, проф. Андреаса Зайделя-Моргенштерна
Препаративная хроматография
Другие серии книг:
Мир химии
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "инструментальный предел обнаружения"
Аналитика #4/2013
В.Васильев, А.Мальцев, А.Винокуров
Инструментальный предел обнаружения систем ГХ/МС: практика применения для хромато-масс-спектрометров СКБ "Хроматэк"
Вопросы определения инструментального предела обнаружения хромато-масс-спектрометров (Instrument Detection Limit - IDL) и сравнения его с отношением амплитуды сигнала к шуму (Signal-to-Noise Ratio, S/N или SNR) уже достаточно хорошо освещены в литературе. В статье рассмотрены практические аспекты применения оценки чувствительности IDL при выпуске из производства хромато-масс-спектрометров в СКБ "Хроматэк", Йошкар-Ола. Обсуждены способы оценки IDL в различных режимах, а также достоинства и недостатки применения нового метода.
Аналитика #2/2013
Р. Герасимов
Инструментальный предел обнаружения вместо отношения сигнала к шуму: новый подход компании Agilent к оценке чувствительности метода ГХ/МС
Многие годы отношение сигнала к шуму (Signal-to-Noise Ratio, S/N или SNR) было главным критерием оценки чувствительности хромато-масс-спектрометров. Однако эта техническая характеристика неприменима при малых уровнях шума, поскольку расчетные значения SNR слабо отражают действительную чувствительность прибора. Компания Agilent предлагает внедрить более точный и надежный метод оценки чувствительности систем для ГХ/МС с низким уровнем шума – инструментальный предел обнаружения (Instrument Detection Limit или IDL).
Разработка: студия
Green Art