Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2023
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "data processing"

Аналитика #5/2017
Ю.А.Каламбет, Ю.П.Козьмин, А.C.Самохин
Фильтрация шумов. Сравнительный анализ методов

Предложена технология сравнения и отбора методов сглаживания в применении к определенным задачам. Проведена сравнительная оценка медианного сглаживания, скользящего среднего, сглаживания гауссианой, метода Савицкого-Голея и адаптивного сглаживания. Обсуждаются критерии выбора метода сглаживания для фильтрации шумов на хроматограммах. УДК 543.08, 543.54; ВАК 02.00.02, 01.04.01 DOI: 10.22184/2227-572X.2017.36.5.88.101

Аналитика #6/2014
К.Михайлова, В.Красиков, И.Малахова, Ю.Козьмин, Ю.Каламбет
Обработка данных планарной хроматографии и гель-электрофореза программой "МультиХром"

Тонкослойная хроматография на пластинах (ТСХ) – один из наиболее часто используемых вариантов хроматографии. Во многих случаях результат анализа получается визуальным исследованием пластины. В работе предлагается решение задачи количественной оценки результатов ТСХ в виде программы, преобразующей изображение пластины, полученное в денситометре или на сканере, в цифровую форму, с дальнейшей обработкой программой "МультиХром". Решение пригодно также для обработки изображений гель-электрофореза ДНК или белков.

Аналитика #2/2013
Ю.Каламбет, С. Мальцев, Ю.Козьмин
"МультиХром" и метрология: 25 лет вместе

Подводятся итоги 25-ти летней работы фирмы "Амперсенд" с точки зрения метрологии. Обобщен опыт работ по разработке программно-аппаратных комплексов для автоматизации хроматографического анализа "МультиХром". Рассмотрены основные источники ошибок измерения, способы подавления помех и их влияние на погрешность измерения. Обсуждаются решения, имеющие непосредственное отношение к метрологии: фильрация шумов, оценка параметров хроматографического пика, оценка характеристик и разделение перекрывающихся пиков, градуировка методами внутреннего и внешнего стандартов, расчет доверительных интервалов. Обсуждены вопросы валидации методик, программного обеспечения и оборудования.