sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)
Книги по аналитике
Статьи
Аналитика #2/2026
Микроволновая пробоподготовка – фундамент современных методов химического анализа
Аналитика #2/2026
«Пеликан» – первый российский роботизированный дифрактометр для анализа остаточных напряжений
Новости
//
все новости
28.04.2026
В «Тимирязев Центр» состоялось открытие выставки VacuumCryoTech
24.04.2026
Почти 600 участников из 19 стран зарегистрировались на Международный конгресс РЕДМЕТ-2026
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 16.06.2026 до 19.06.2026
Rosmould | Rosplast | 3D-TECH — комплексные инженерные решения для современного производства. г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение
Основные рубрики журнала
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по аналитике
читать книгу
Устынюк Ю.А.
Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс)
читать книгу
Золотов Ю.А.
Очерки истории аналитической химии
читать книгу
Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И., Филатов А. М., Ульяненков А. Г.
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Другие серии книг:
Мир химии
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "точность"
Печатный монтаж #3/2017
Д.Иванов
Что делает принтеры EKRA точными и надежными? технологические особенности систем трафаретной печати от компании EKRA
Германская компания EKRA (в настоящее время – часть группы предприятий ASYS) на протяжении десятилетий остается технологическим лидером в области производства систем трафаретной печати. В статье описаны инженерные решения, обеспечившие последнему поколению принтеров EKRA высокий уровень основных технических характеристик. DOI: 10.22184/1992-4178.2017.163.3.178.181 УДК 621.791.3 ВАК 05.27.06
Печатный монтаж #5/2016
Р.Елфимов
Новый импульс в технологии струйного дозирования
Компания Nordson EFD представляет инновационную технологию нанесения жидкостей: бесконтактный пьезоэлектрический струйный клапан PICO Pμlse в сочетании с контроллером PICO Toμch устраняет барьер между скоростью и точностью и обеспечивает беспрецедентные возможности по управлению технологическим процессом.
Станкоинструмент #2/2016
Ю. Савинов
Управление жизненным циклом станков на предприятиях РОСКОСМОСА
В статье рассмотрены вопросы перспективного технического обслуживания станков на основе методов безразборной вибрационной диагностики. Показано, что реальный объем ремонтных работ составил не более 20% от устанавливаемых по системе планово-предупредительного ремонта.
Станкоинструмент #1/2015
М.КИСЕЛЕВ, А.КОМШИН, А.СЫРИЦКИЙ
Внедрение измерительно-вычислительных комплексов сопровождения жизненного цикла металлообрабатывающего оборудования и инструмента на основе фазохронометрического метода
В статье рассматриваются проблемы обеспечения жизненного цикла объектов отечественного машиностроения. Проведен анализ некоторых актуальных направлений развития в соответствии с государственными программами развития. На примере внедрения измерительновычислительных технологий на базе фазохронометрического метода показаны возможности решения задач мониторинга, оценки технического состояния оборудования и инструмента, деградационных процессов в конструкционных материалах, определения раннего зарождения дефектов. Приведены экономические расчеты внедрения подобной технологии в станкостроении.
Аналитика #4/2015
В.Цупрева
НОВЫЙ СПЕКТРОФЛУОРИМЕТР SHIMADZU: СОЧЕТАНИЕ ВЫСОКОЙ ТОЧНОСТИ И УДОБСТВА В ЭКСПЛУАТАЦИИ
Люминесцентный анализ – это универсальный инструмент для изучения возбужденных состояний молекул, фотохимических реакций, динамики быстрых молекулярных процессов, структуры и свойств сложных химических и биологических объектов. Высокая чувствительность и точность этого вида анализа позволяют использовать его как уникальный метод определения природы и состава веществ в условиях даже очень низких концентраций. Наиболее изученный сегодня вид люминесценции – фотолюминесценция, включающая в себя такие явления, как флуоресценция и фосфоресценция. Фотолюминесцентные методы анализа достаточно просты и позволяют экспрессно получать результаты при минимальной пробоподготовке. Благодаря этим особенностям данная техника анализа все более широко применяется в химии и биологии, медицине и фармацевтике, пищевой промышленности и экологии, электронике и различных областях техники.
Электроника НТБ #2/2013
И.Бармашов
Плазмохимическое травление в технологии изготовления МЭМС-датчиков
Благодаря разнообразной конструкции и назначению МЭМС стремительно входят в нашу повседневную жизнь. Можно сказать, что MEMС – это множество микроустройств самой разной конструкции и назначения, в производстве которых используются модифицированные технологические приемы микроэлектроники.
Электроника НТБ #3/2011
Г.Трапашко
Контроль микроразмеров при производстве ИС. Задачи и особенности
Фотолитография – ключевой технологический процесс в производстве полупроводниковых приборов и микросхем. Суть процесса заключается в переносе оригинала топологии интегральной схемы на поверхность полупроводниковой пластины. Характеристики микросхем зависят от точности изготовления их минимальных элементов. Задача фотолитографии – обеспечить качественное формирование этих элементов на всем поле кремниевой пластины с соблюдением допускаемых отклонений размеров элементов и их расположения относительно нижележащих структур, сформированных в предыдущем цикле.
←
1
2
Разработка: студия
Green Art