sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)
Книги по аналитике
Статьи
Аналитика #2/2026
Микроволновая пробоподготовка – фундамент современных методов химического анализа
Аналитика #2/2026
«Пеликан» – первый российский роботизированный дифрактометр для анализа остаточных напряжений
Новости
//
все новости
28.04.2026
В «Тимирязев Центр» состоялось открытие выставки VacuumCryoTech
24.04.2026
Почти 600 участников из 19 стран зарегистрировались на Международный конгресс РЕДМЕТ-2026
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
до 29.04.2026
25-я юбилейная специализированная выставка приборов и оборудования для промышленного неразрушающего контроля Дефектоскопия / NDT Санкт-Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение
Основные рубрики журнала
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по аналитике
читать книгу
Под ред. Е.К. Белоглазкиной, В.Г. Ненайденко, И.П. Белецкой
История органической химии в университетах России. От истоков до наших дней
читать книгу
Жуховицкий А.А. и др.
Хромадистилляция и хроматография
читать книгу
Сычев К.С.
Правильная эксплуатация ВЭЖХ оборудования и колонок. Поиск и устранение неполадок
Другие серии книг:
Мир химии
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "data reliability"
Аналитика #3/2024
М. И. Мельник
Новый подход к повышению точности анализа проб методом ИСП-АЭС при разведке, добыче и переработке твердых полезных ископаемых
*Надежность оценки содержания благородных металлов в материалах составляет едва ли не основную проблему технико-экономических расчетов, предполагаемых к разработке проектов, действующих технологий и спорных ситуаций в межотраслевых отношениях при производстве конечных продуктов. Одним из важных и широко применяемых методов для геохимического анализа горных пород, руд и продуктов их переработки является атомно-эмиссионный метод с индуктивно связанной плазмой (ИСП-АЭС). В статье представлены революционные технологии и программные продукты, реализованные в новых моделях Agilent 5800 и 5900 ИСП-АЭС, которые обеспечивают абсолютно новый подход к повышению точности анализа проб при разведке, добыче и переработке твердых полезных ископаемых. В процессе проведении анализа реальных проб на спектрометрах Agilent 5800 и 5900 ИСП-АЭС с помощью интеллектуального программного пакета IntelliQuant проводится быстрый сбор полуколичественных данных для всех элементов по всему спектральному диапазону для каждого образца и предоставляется исчерпывающая информация о пробе. После завершения исследования полного спектра каждой пробы инструмент IntelliQuant проверяет данные и автоматически определяет оптимальную длину волны, которая обеспечит лучший результат для каждого элемента.
Аналитика #6/2021
М. И. Мельник
Новый подход к повышению точности элементного анализа методом оптико-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
DOI: 10.22184/2227-572X.2021.11.6.466.471 Представлены сведения о передовых технологиях и интеллектуальных программных продуктах, реализованных в новых моделях оптико-эмиссионных спектрометров с индуктивно связанной плазмой Agilent 5800 и 5900 ИСП-ОЭС, которые обеспечивают абсолютно новый подход к повышению точности анализа образцов различной природы и состава. В процессе анализа реальных образцов на Agilent 5800 и 5900 ИСП-ОЭС с помощью интеллектуального программного пакета IntelliQuant проводится быстрый сбор полуколичественных данных для элементов по всему спектральному диапазону и предоставляется исчерпывающая информация о составе пробы. После завершения исследования полного спектра инструмент IntelliQuant проверяет данные и автоматически определяет оптимальную длину волны для количественного анализа каждого элемента. Описаны методики выбора эмиссионных линий с учетом состава матрицы и спектральных интерференций. Отмечены способы визуализации элементного состава с помощью «теплокарты» Периодической таблицы Менделеева и интеллектуальной диаграммы. Приведены примеры применения нового программного продукта для анализа образцов почвы с добавками алюминия.
Разработка: студия
Green Art