Аналитика #6/2021
М. И. Мельник
Новый подход к повышению точности элементного анализа методом оптико-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
DOI: 10.22184/2227-572X.2021.11.6.466.471 Представлены сведения о передовых технологиях и интеллектуальных программных продуктах, реализованных в новых моделях оптико-эмиссионных спектрометров с индуктивно связанной плазмой Agilent 5800 и 5900 ИСП-ОЭС, которые обеспечивают абсолютно новый подход к повышению точности анализа образцов различной природы и состава. В процессе анализа реальных образцов на Agilent 5800 и 5900 ИСП-ОЭС с помощью интеллектуального программного пакета IntelliQuant проводится быстрый сбор полуколичественных данных для элементов по всему спектральному диапазону и предоставляется исчерпывающая информация о составе пробы. После завершения исследования полного спектра инструмент IntelliQuant проверяет данные и автоматически определяет оптимальную длину волны для количественного анализа каждого элемента. Описаны методики выбора эмиссионных линий с учетом состава матрицы и спектральных интерференций. Отмечены способы визуализации элементного состава с помощью «теплокарты» Периодической таблицы Менделеева и интеллектуальной диаграммы. Приведены примеры применения нового программного продукта для анализа образцов почвы с добавками алюминия.