Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "high-purity substances"

Аналитика #6/2025
М. Ф. Чурбанов, Е. Н. Волкова, О. П. Лазукина, К. К. Малышев
50 лет Выставке-коллекции веществ особой чистоты

10.22184/2227-572X.2025.15.6.460.467 Дана краткая историческая справка о деятельности созданной в 1974 году Выставки-коллекции веществ особой чистоты. Отмечены выдающиеся ученые, стоявшие у истоков Выставки-коллекции и сыгравшие большую роль в организации ее работы. Перечислены организации, которые приняли активное участие в пополнении коллекции особо чистых веществ. Обсуждаются основные направления деятельности Выставки-коллекции, цели которой – исследование примесного состава как одной из основных характеристик высокочистых веществ и мониторинг достигнутого уровня чистоты веществ в России и мире. На Выставке-коллекции представлен 761 образец высокочистых веществ, полученных из 149 научно-исследовательских и промышленных предприятий России и стран СНГ. Подчеркивается важная роль Информационно-расчетной системы «Высокочистые вещества и материалы», созданной для хранения и обработки большого, постоянно растущего массива данных, содержащих сведения о примесном составе высокочистых веществ, их свойствах, методах получения, метрологических показателях наиболее чувствительных методов их анализа, а также производителях высокочистых веществ, характеристиках их продукции, нормативно-технической документации и пр. Приводится современный уровень чистоты простых веществ, производимых в России и мире в сопоставлении с уровнем чистоты лучших выставочных образцов.

Аналитика #6/2021
А. Р. Цыганкова
Эффективные способы концентрирования при пробоподготовке в спектральном анализе высокочистых веществ и функциональных материалов

DOI: 10.22184/2227-572X.2021.11.6.450.457 Отделение основы пробы отгонкой после химического превращения – эффективный способ концентрирования примесей для их последующего спектрального анализа. В статье рассмотрены различные варианты реализации такого процесса – в один или два этапа, для высокочистых кремния, германия и их оксидов; оксидов висмута, молибдена и вольфрама. Проведено сравнение списка определяемых примесей, уровня пределов обнаружения и других особенностей разработанных методик количественного химического анализа на основе указанных способов отделения основы пробы. Отделение основы пробы отгонкой после химического превращения позволяет снизить пределы обнаружения примесей до 10–8% мас. при их АЭС-определении и до 10–10% мас при МС-определении. Внутрилабораторная прецизионность анализа составляет 0,2–0,3.