sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)
Книги по аналитике
Статьи
Аналитика #6/2025
Годовое содержание 2025
Аналитика #6/2025
Всероссийская конференция «Российское научное приборостроение: состояние и проблемы»
Новости
//
все новости
24.11.2025
Вышел из печати Выпуск №6/2025 журнала «Аналитика»
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
Санкт-Петербургский международный экологический форум «Экология большого города»
c 07.04.2026 до 09.04.2026
IPhEB 2026. г. Санкт- Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение
Основные рубрики журнала
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по аналитике
читать книгу
Пупышев А.А.
Атомно-абсорбционный спектральный анализ
читать книгу
Устынюк Ю.А.
Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс)
читать книгу
Устынюк Ю.А.
Лекции по органической химии.Часть 1. Вводный концентр /Издано при фин. поддержке ФАПМК в рамках Федеральной целевой программы «Культура России (2012—2018 годы)»
Другие серии книг:
Мир химии
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "тестирование"
Электроника НТБ #2/2024
Р. Ермилов, Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин
ПОВЫШЕНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК НАДЕЖНОСТИ МНОГОВЫВОДНЫХ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ АО «ЗПП» ЗА СЧЕТ ПРИМЕНЕНИЯ СИСТЕМ ТЕСТОВОГО КОНТРОЛЯ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.84.86 Рассмотрено тестовое оборудование, которое используется в Акционерном обществе «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП») при изготовлении многовыводных металлокерамических корпусов для интегральных микросхем.
Электроника НТБ #9/2023
Д. Рыбаков
ЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИЕ КОМПОНЕНТЫ АО «ЗПП»
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.230.9.78.79 Рассмотрены различные типы устройств контактирующих (УК), которые разрабатывает и производит АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»).
Электроника НТБ #10/2022
ПРИМЕНЕНИЕ ПРИЕМОПЕРЕДАТЧИКОВ СЕРИИ PROTEUS КОМПАНИИ TABOR ELECTRONICS ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ РАДАРОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.221.10.62.69 Рассмотрены принципы работы радаров. Приведена информация о характеристиках приемопередатчиков серии Proteus компании Tabor Electronics и их применении для тестирования радаров.
Электроника НТБ #2/2022
К. Фелтон, Д. Вертянов, С. Евстафьев, В. Сидоренко, Н. Горшкова
НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РЕШЕНИЙ ДЛЯ КОРПУСИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ. Часть 4
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.213.2.82.86 Рассмотрены основные этапы и программные модули лучших в своем классе решений верификации и тестирования сложных гетерогенных корпусов микросхем для эффективной и безошибочной передачи проекта на производство.
Электроника НТБ #9/2021
А. Мендеров
СРАВНЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ГЕНЕРАТОРОВ И ГЕНЕРАТОРОВ СИГНАЛОВ ПРОИЗВОЛЬНОЙ ФОРМЫ
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.210.9.122.125 Проведено сравнение функциональных генераторов и генераторов сигналов произвольной формы. Приведена информация о преимуществах, недостатках и возможных применениях генераторов каждого из этих типов.
Электроника НТБ #5/2020
М. Макушин, В. Мартынов
ПРОИЗВОДСТВЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ: ПРОБЛЕМЫ РАЗВИТИЯ. Часть 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.196.5.120.127 Рассматриваются некоторые аспекты развития технологий микроэлектроники: ALD- и ХОПФ процессы, ионная имплантация, EUV литография, совершенствование методик тестирования.
Электроника НТБ #2/2020
М. Макушин, В. Мартынов
Некоторые проблемы современной метрологии в микроэлектронике
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.193.2.80.91 По мере масштабирования ИС и освоения 3D-структур усложняются средства метрологии и контроля. Важную роль в дальнейшем их развитии и совершенствовании играют искусственный интеллект, машинное обучение и совершенствование вычислительных технологий.
Электроника НТБ #8/2019
Ethernet – ключевой компонент современных автомобильных технологий
Рассмотрено применение автомобильного Ethernet. Отмечено, что компания Keysight Technologies готова предложить своим заказчикам полный набор решений для тестирования автомобильного Ethernet.
Аналитика #3/2017
В.Цупрева, В.Румянцев
Контроль качества полимерных упаковочных материалов
Полимерная упаковка широко применяется в повседневной жизни, так как эффективно защищает товары от механических повреждений и воздействия окружающей среды. Полимерная тара и упаковка должны иметь определенные эксплуатационные характеристики, быть безопасными и нетоксичными. Для контроля качества полимерного сырья и готовой продукции в соответствии с российскими и международными стандартами проводят ряд испытаний для оценки физико-химических, механических, теплофизических и реологических свойств. УДК 54.084, 543.07 ВАК 02.00.02 DOI: 10.22184/2227-572X.2017.34.3.54.56
Печатный монтаж #6/2015
Л.Прудникова, В.Мейлицев
ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ: ОБЩИЕ ПРИНЦИПЫ И РАСПРОСТРАНЕННЫЕ ОШИБКИ
Компании, не имеющие большого опыта в разработке электронных устройств, допускают ошибки в проектах, которые на этапе производства приводят к значительным потерям – временным, финансовым, имиджевым. Каковы наиболее типичные из этих ошибок, в чем их причины и на что нужно обратить внимание, чтобы их избежать?
1
2
→
Разработка: студия
Green Art