Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "electron gun"

Аналитика #3/2018
Разработка универсального электронного микроскопа JEM-F200 (F2)

Аналитические системы высокого разрешения, такие как просвечивающие электронные микроскопы (TEM) и сканирующие просвечивающие электронные микроскопы (STEM) востребованы многими исследователями. Современные микроскопы должны обеспечивать повышенное разрешение, а также улучшенные эффективность и простоту использования. Компания JEOL разработала универсальный электронный микроскоп нового поколения JEM-F200 (F2) с разрешением до 0,1 нм в режиме TEM и до 0,14 нм в режиме STEM. Разработан новый, ориентированный на интуитивное управление пользовательский интерфейс. JEM-F200 (F2) комплектуется программными модулями для управления работой микроскопа и для анализа изображений. Использование системы конденсоров с четырьмя линзами позволяет получать высококачественные изображения методами светлого и темного полей. Микроскоп оснащен автоматической системой установки/извлечения держателя образца SPECPORTER, а также позволяет использовать держатели для приборов предыдущих серий. Помимо электронной пушки с катодом Шотки, JEM-F200 (F2) может комплектоваться усовершенствованным источником с холодным катодом. Новый прибор является универсальным инструментом для решения широкого спектра исследовательских задач, включая анализ материалов, макромолекулярный анализ и криоэлектронную микроскопию. УДК 53.086; ВАК 05.11.01 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.40.3.274.282