DOI: 10.22184/2227-572X.2020.10.2.124.130

Статья основана на материале пленарного доклада автора на III Всероссийской конференции по аналитической спектроскопии. Сегодня значительная часть электронных микроскопов оборудована энергодисперсионными рентгеновскими спектрометрами (ЭДС) с соответствующим математическим обеспечением. В результате этого возникает дополнительная возможность – проведение ЭЗМА исследуемого объекта. Руководства по использованию этих спектрометров предлагают достаточно простой и быстрый алгоритм проведения анализа обычно без использования ­каких-либо образцов сравнения (ОС). Такой подход получил название «безэталонный анализ» (БА). Обсуждается развитие БА и проблема правильности определений.

sitemap

Разработка: студия Green Art